卡尺、環(huán)規(guī)、三坐標(biāo)、光譜儀、手持光譜儀、紫外分光廣度計(jì)，硬度計(jì)、色差儀、二次元影像測(cè)量?jī)x、HORS分析儀、超聲波探傷儀、涂層測(cè)厚儀、粗糙度儀、材料試驗(yàn)機(jī)、鹽霧試驗(yàn)箱、顯微鏡及各類電子測(cè)試儀器
| 保修期限 | 6個(gè)月 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)品成色 | 全新 | 使用年限 | 1年以內(nèi) |
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,環(huán)保,能源,綜合 |
手持式光譜儀是一種基于XRF(X Ray Fluorescence,X射線熒光)光譜分析技術(shù)的光譜分析儀器，主要由X光管、探測(cè)器、CPU以及存儲(chǔ)器組成。手持式光譜儀由于它具有便攜、高效、準(zhǔn)確等優(yōu)點(diǎn)使其在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、事故調(diào)查等現(xiàn)場(chǎng)有著廣泛的應(yīng)用。
基本原理
是一種XRF光譜分析技術(shù)，X光管產(chǎn)生的X射線打到被測(cè)樣品時(shí)可以擊出原子的內(nèi)層電子，出現(xiàn)殼層空穴，當(dāng)外層電子從高軌道躍遷到低能軌道來填充軌道空穴時(shí)，就會(huì)產(chǎn)生特征X射線。X射線探測(cè)器將樣品元素的X射線的特征譜線的光信號(hào)轉(zhuǎn)換成易于測(cè)量的電信號(hào)來得到待測(cè)元素的特征信息。
儀器特點(diǎn)
——便攜、高效、準(zhǔn)確可以在質(zhì)量控制、材料分類、合金鑒別、事故調(diào)查等現(xiàn)場(chǎng)應(yīng)用。
——選配小點(diǎn)瞄準(zhǔn)模式，可檢測(cè)被檢測(cè)面積較小的樣品，如：焊點(diǎn)、焊縫。
——高性能硅漂（SDD）探測(cè)器（25平方毫米），即可分析Mg、Al、Si、P等輕元素。
可分析元素分析范圍
應(yīng)用領(lǐng)域
合金材料鑒別
金屬工業(yè)中質(zhì)量控制（QC/QA）
金屬?gòu)U料回收
考古/文物鑒定
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