TEM-STM樣品桿系列

產(chǎn)品介紹

TEM-STM測量系統(tǒng)是在標準外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過探針對單個納米結(jié)構(gòu)進行操縱和電學(xué)測量。在進行原位操縱的同時利用透射電鏡及相關(guān)附件實時動態(tài)地對樣品的晶體結(jié)構(gòu)、化學(xué)組分、元素價態(tài)進行綜合表征，極大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應(yīng)用領(lǐng)域。

產(chǎn)品特色

1.電學(xué)測量指標

電流測量范圍: 1 nA - 30 mA，多個量程

電流分辨率: 優(yōu)于100 fA

電壓輸出范圍:普通模式 ± 10 V，高壓模式 ± 150 V

自動I-V測量、l-t 測量，自動保存

可外接第三方源表滿足多種實驗需求

包含一個電流電壓測試單元

2.掃描探針操縱指標

粗調(diào)范圍: XY 方向 2.5 mm，Z 方向1.5 mm

細調(diào)范圍: XY 方向15 μm，Z 方向1.5 μm

細調(diào)分辨率: XY 方向0.4 nm，Z 方向0.04 nm

粗細調(diào)均為軟件控制

拓展產(chǎn)品

基于TEM-STM測量系統(tǒng)，研究人員還可選擇掃描探針與多種外場耦合的原位測量系統(tǒng)：

AFM力電測量系統(tǒng)                       光電測量系統(tǒng)                           低溫電學(xué)測量系統(tǒng)

納牛級力學(xué)傳感器                        雙向光纖輸出                           液氮低溫制冷

力學(xué)曲線輸出                               光電流測量                              低溫下電學(xué)測量

力-電同時測量                             光譜分析                                  低溫下力學(xué)操縱

高溫電學(xué)測量系統(tǒng)                       高溫力學(xué)測量系統(tǒng)                     多場原位測量系統(tǒng)

芯片式加熱                                 芯片式加熱                               芯片式加熱/加電

熱-電耦合                                   熱-力耦合                                 集成雙向光纖

高溫下力學(xué)操縱                          力學(xué)曲線輸出                            熱-電-力-光多場耦合

應(yīng)用案例

PbTiO3/SrRuO3 界面處的三重極化                           電場作用下混合型疇結(jié)構(gòu)到單一型疇結(jié)構(gòu)的轉(zhuǎn)變

頂點的電場調(diào)控

部分產(chǎn)品精選

原位低溫TEM-STM測量系統(tǒng)、原位MST一體化測量系統(tǒng)、原位真空傳輸TEM-STM測量系統(tǒng)、

原位光學(xué)TEM-STM測量系統(tǒng)、原位雙傾TEM-STM測量系統(tǒng)