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Nanofilm_EP4 橢偏儀

具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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深圳市錫成科學(xué)儀器有限公司深耕科學(xué)儀器與精密測試設(shè)備領(lǐng)域,作為專業(yè)服務(wù)商,我們整合了多種優(yōu)質(zhì)技術(shù)資源,為科研創(chuàng)新、工業(yè)制造及質(zhì)量管控領(lǐng)域提供高價值解決方案。作為國內(nèi)外多個品牌的合作伙伴,公司構(gòu)建了涵蓋電化學(xué)分析、膜厚與表面輪廓檢測、電學(xué)測量、力學(xué)測量等領(lǐng)域的多元化產(chǎn)品體系,致力于以精準(zhǔn)數(shù)據(jù)驅(qū)動行業(yè)升級。

在電化學(xué)領(lǐng)域,我們提供從基礎(chǔ)研究到產(chǎn)業(yè)應(yīng)用的先進(jìn)設(shè)備,覆蓋電池性能評估、電催化研究、腐蝕監(jiān)測等場景;膜厚及表面輪廓測試產(chǎn)品線以納米級精度賦能半導(dǎo)體、光學(xué)鍍膜、新能源材料等行業(yè)的工藝優(yōu)化;電學(xué)儀表系列聚焦電子元器件檢測及實驗室標(biāo)準(zhǔn)化需求,確保測量精度與效率雙提升;力學(xué)測量解決方案則專注于材料強(qiáng)度測試,為金屬、陶瓷、復(fù)合材料及柔性電子等領(lǐng)域提供關(guān)鍵數(shù)據(jù)支撐。

依托成熟的服務(wù)體系、我們幫助客戶實現(xiàn)技術(shù)工具與業(yè)務(wù)場景的深度融合。未來,公司將持續(xù)拓展技術(shù)邊界,以創(chuàng)新為引擎,推動檢測技術(shù)與產(chǎn)業(yè)發(fā)展的協(xié)同共進(jìn),助力客戶在全球競爭中贏得先機(jī)。




臺階儀,光學(xué)輪廓儀,電化學(xué)工作站,納米壓痕儀,力電聯(lián)測材料試驗機(jī),介電溫譜測量系統(tǒng),電阻測試儀,原子力顯微鏡,光學(xué)顯微鏡

產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 綜合

橢偏儀

超薄膜的實時可視化分析測試,實時觀察樣品微觀尺度上的結(jié)構(gòu)??梢詼y量諸如薄膜厚度、折射率和吸收系數(shù)等參數(shù)。也可以對薄膜進(jìn)行區(qū)域化(選區(qū))分析,獲得所選區(qū)域的成像分析圖。

橢偏儀產(chǎn)品特點

a 自動消光型橢偏分析技術(shù)和傳統(tǒng)的顯微鏡技術(shù)結(jié)合,可視化實時圖像橢偏分析,橫向(X/Y方向)分辨率優(yōu)于1μm

a 實時橢偏對比度圖像,實時視頻圖像分析。樣品的所有微結(jié)構(gòu)、缺陷、污染和動態(tài)變化過程都將一覽無余。

a 全畫幅聚焦技術(shù)解決了斜角入射導(dǎo)致的全畫幅聚焦問題,適用于動態(tài)原位分析測試,如自組裝單分子層的生長和移動、蛋白質(zhì)相互作用和水面單分子層的漂移等。

a 光斑切割技術(shù),真正實現(xiàn)超薄透明基底上薄膜的無背底反射橢偏測試。

基礎(chǔ)參數(shù)


樣品對準(zhǔn)

探測Z方向的位置和傾斜,傾轉(zhuǎn)軸探測精度:0.001°,Z向精度:1μm

儀器對準(zhǔn)

光學(xué)系統(tǒng)角度傾轉(zhuǎn)調(diào)整,獨立于樣品位置,傾轉(zhuǎn)軸探測精度:0.001°

Z軸升降系統(tǒng)

行程范圍:>100mm,可重復(fù)性:lμm

光源

低氙弧燈激光光源,噪聲低至0.1%,長壽命10000小時;

可選單波長激光光源或200-2000nm連續(xù)波長光源;

提供250-1700nm光柵單色器,中段波長精度<1nm,帶寬5/6/12nm;

可選光斑切割照明模塊,實現(xiàn)透明基底薄膜的無背底反射干擾測量;

光學(xué)成像系統(tǒng)

聚焦掃描系統(tǒng),在變角度測量時(<80°)實現(xiàn)實時圖像,兼容所有物鏡,橫向分辨率<1μm;

全畫幅聚焦圖像/實時視頻,橫向分辨率2μm,工作入射角:52°~57°;

探測器

單色千兆網(wǎng)(GigE)CCD相機(jī),波長:360nm-1000nm,1392×1040 px,12位,40幀/秒;

可選近紅外(NIR)探測相機(jī)和紫外線(UV)探測相機(jī);

可選多相機(jī)匹配及切換系統(tǒng);

物鏡

2×-50×物鏡;

UV/IR物鏡;

自動轉(zhuǎn)角儀

入射角范圍:38°-90°,分辨率:0.001°,角精度:0.01°,轉(zhuǎn)動速度:-5°/秒

Z軸自動升降系統(tǒng)

行程:12cm,可重復(fù)性:1μm,分辨率0.5μm

拓展附件

表面等離子共振(SPR)單元,固/液界面分析單元,光導(dǎo)液/液界面分析單元,微流控分析單元,溫度控制單元,電化學(xué)分析單元等

聯(lián)用技術(shù)

AFM、石英晶體微天平、反射光譜儀、拉曼光譜儀、白光干涉儀等





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