泰克371B 回收 Tektronix371B

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泰克 371B 曲線跟蹤儀用于測試各種功率半導體。Tektronix371B 是高功率曲線  器的行業(yè) ，可對各種功率半導體執(zhí)行直流參數(shù)表征，包括晶閘管、SCR、IGBT 和功率 MOSFET。高壓集電極模式允許測試高達 3,000 伏的器件的關(guān)閉特性。脈沖高電流集電極模式提供大于 400 安培峰值的輸出電流脈沖，用于測試導通特性。它還允許進行高達 3,000 瓦的高功率測試。

Tektronix 371B 測量的交互式控制是從全功能前面板或通過 GPIB 完成的。每個操作參數(shù)都可以使用 GPIB 控制器進行控制。  上提供了 Tektronix 371B 系列 LabView 驅(qū)動程序。這些驅(qū)動程序具有許多構(gòu)建塊來創(chuàng)建自定義測量解決方案。

多 80 條數(shù)字化特性曲線可以存儲在軟盤或內(nèi)部非易失性存儲器中，只需按一下按鈕即可調(diào)用。然后可以將實時曲線與先前存儲的曲線進行比較，以評估溫度漂移或操作參數(shù)的其他變化。為幫助識別數(shù)據(jù)，多可使用 24 個字符的文本來標記或注釋曲線數(shù)據(jù)?？梢允褂枚喾N存儲方法調(diào)整、存儲和調(diào)用操作參數(shù)，包括系統(tǒng)內(nèi)存、內(nèi)置 1.44 MB 軟盤驅(qū)動器，或通過 GPIB 控制器發(fā)送到外部。

Tektronix 371B 提供三種光標測量模式。點光標提供任何點的電壓、電流、gm 或 DC beta 的直接屏幕讀數(shù)。窗口光標可以定位在兩條曲線之間以測量小信號 beta 或 gm，也可以用于視覺通過/不通過測試。功能線光標提供斜率或截距值的屏幕讀數(shù)。

測試夾具是一種標準附件，可提供安全的設(shè)備外殼，以確保在測量期間保護操作員。測試夾具可容納帶開爾文感應功能的標準適配器。

泰克 371B 高功率曲線跟蹤儀的特點包括：

半導體器件的高精度測量

高壓和電流源（高達 3,000 V 或 400 A）

內(nèi)置光標測量 - 點、窗口和功能線

波形比較和平均開爾文檢測測量

可編程

1.44 MB 軟盤驅(qū)動器存儲設(shè)置和曲線位圖

使用第三方打印機直接打印硬拷貝

Tek 371B 曲線 蹤器的替代品：Tektronix 371A