日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測量裝置
- 公司名稱 成都藤田科技有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型號
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2025/2/22 10:06:38
- 訪問次數(shù) 114
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產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
日本Otsuka大塚RETS-100nx相位差測量裝置-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
特 點(diǎn)
使用光譜儀實現(xiàn)高精度測量
精度高的原因
● 使用高性能多通道光譜儀(型號:MCPD)對光譜進(jìn)行解析
● 可獲取較多的透過率信息 實現(xiàn)高精度測量
(獲得的透射率信息約為 500 波長,是其他公司產(chǎn)品的約50 倍)。
超高相位差測量-超雙折射薄膜可高速、高精度測量
軸角度補(bǔ)正功能-即使樣品放置有偏離,也可輕松、再現(xiàn)性良好的進(jìn)行測量
便捷的軟件-極大縮短測量時間與處理時間,操作性大幅UP
產(chǎn)品規(guī)格
測量項目(薄膜、光學(xué)材料) | 相位差(波長分散)、慢軸、RTH*1、3次元折射率*1等 |
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測量項目(偏光片) | 吸收軸、偏光度、消光比、各種色度、各種透過率等 |
測量項目(液晶cell) | cell gap、預(yù)傾角*1 、扭曲角、配向角等 |
位相差測量范圍 | 0~60,000nm |
相位差重復(fù)性 | 3σ≦0.08nm(水晶波長板 約600nm) |
cell gap 測量范圍 | 0~600μm(Δn=0.1時) |
cell gap 重復(fù)性 | 3σ≦0.005μm(cell gap 約3μm、Δn=0.1時) |
軸檢測重復(fù)性 | 3σ≦0.08°(水晶波長板 約600nm) |
測量波長范圍 | 400~800nm(其他可選) |
檢測器 | 多通道光譜儀 |
測量徑 | φ2㎜(標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格) |
光源 | 100W halogen lamp |
數(shù)據(jù)處理部 | 個人計算機(jī)、顯示器 |
樣品臺尺寸:標(biāo)準(zhǔn) | 100㎜×100㎜(固定樣品臺) |
option | ·超高相位差測量 |
*1:必須配備自動傾斜旋轉(zhuǎn)樣品臺。(option)
測量案例
固定樣品臺
自動傾斜旋轉(zhuǎn)樣品臺
自動XY樣品臺
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