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天平校準失敗后如何進行故障排除？

2025-5-20　　閱讀(192)

天平校準失敗后的故障排除需遵循 **“先環(huán)境后設(shè)備、先簡單后復(fù)雜"** 的原則，逐步排查問題根源。以下是分步驟的排查方法及解決策略：

一、環(huán)境與操作排查

1. 確認環(huán)境條件

溫度

檢查實驗室溫度是否在天平適用范圍（如 20±5℃），短時間波動是否超過 ±2℃。
解決：開啟空調(diào)穩(wěn)定溫度，高精度天平需提前 2 小時預(yù)熱環(huán)境，避免空調(diào)直吹天平。

濕度

用濕度計測量相對濕度，確保在 45%~75% RH 之間。低濕度可能引發(fā)靜電，高濕度易導(dǎo)致元件受潮。
解決：使用加濕器 / 除濕機調(diào)節(jié)濕度，低濕度環(huán)境可在天平旁放置防靜電墊。

振動與氣流

觀察天平是否放置在穩(wěn)固臺面（輕敲桌面，看水平儀氣泡是否晃動），是否靠近門窗、風(fēng)扇或通風(fēng)櫥。
解決：移至減震工作臺，關(guān)閉門窗，遠離氣流源，必要時使用減震腳墊。

2. 檢查操作規(guī)范性

天平調(diào)平

觀察水平儀氣泡是否居中（電子天平可查看屏幕水平提示）。
解決：旋轉(zhuǎn)天平底部調(diào)平腳，直至氣泡居中（部分天平需同時調(diào)整前后 / 左右腳）。

校準模式選擇

確認天平類型：內(nèi)置砝碼天平需選擇 “內(nèi)部校準"，外置砝碼需用 “外部校準" 并準備對應(yīng)等級砝碼。
常見錯誤：誤將外置砝碼用于內(nèi)置校準模式，或未取出運輸固定螺絲（新天平常見問題）。

砝碼使用

檢查砝碼等級是否匹配（如萬分之一天平需 E2 級，千分之一需 F1 級），表面是否有污漬、磨損或磁性。
解決：用鑷子取砝碼，避免手觸；若砝碼污染，用無水乙醇擦拭并干燥；懷疑砝碼失準，用已知標準砝碼對比（或送檢定）。

二、儀器硬件排查

1. 機械部件檢查

秤盤與支架

取下秤盤，檢查底部是否有異物（如碎屑、毛發(fā)），支架連接處是否卡頓或變形。
解決：用軟毛刷清理秤盤下方，輕輕晃動支架確認活動靈活，若卡阻需拆機檢修（非專業(yè)人員勿自行拆卸）。

運輸固定裝置

新天平或移動后的天平可能未移除運輸螺絲 / 卡扣，導(dǎo)致秤盤無法自由晃動。
解決：查看說明書，找到運輸固定裝置并松開（通常位于天平底部或側(cè)面）。

2. 傳感器與電路檢測

傳感器受潮

低濕度環(huán)境可能因靜電吸附灰塵，高濕度可能導(dǎo)致傳感器受潮，表現(xiàn)為讀數(shù)不穩(wěn)定或跳變。
解決：低濕度時用壓縮氣罐吹凈傳感器附近灰塵；高濕度時開機預(yù)熱 2 小時以上，若無效需送修烘干。

電路故障

觀察天平屏幕是否有報錯代碼（如 “E1"“CAL ERR" 等，不同品牌含義不同），或電源適配器指示燈是否正常。
解決：若提示 “電源故障"，更換插座或適配器；若報錯代碼指向主板或傳感器，需聯(lián)系廠家維修。

3. 軟件與固件重置

恢復(fù)出廠設(shè)置

部分天平支持通過按鍵組合（如開機時按住 “CAL" 鍵）恢復(fù)出廠設(shè)置，可清除程序錯誤。
注意：操作前需備份用戶設(shè)置（如單位、校準參數(shù)）。

固件升級

若天平頻繁校準失敗且使用年限較長，可能是固件版本過低，需聯(lián)系廠家獲取升級文件（通過 USB 或聯(lián)網(wǎng)更新）。

三、校準工具驗證

1. 砝碼有效性驗證

對比法

用另一臺已校準的高精度天平稱量當前砝碼，觀察示值是否一致（誤差需在砝碼允差范圍內(nèi)，如 F1 級砝碼允差 ±0.1mg/100g）。

送檢法

若懷疑砝碼失準，將其送至計量機構(gòu)檢定，獲取校準證書。

臨時替代法

若無標準砝碼，可用已知重量的基準物（如經(jīng)檢定的不銹鋼塊、標準砝碼替代品）臨時替代，觀察校準是否通過。

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天平校準失敗后如何進行故障排除？

一、環(huán)境與操作排查