手機出廠前都做過哪些測試 宏展帶您走進了解！

跌落測試
跌落測試是為了保障用戶手機不小心發(fā)生摔落下使手機不容易發(fā)生電氣性能損壞。
該測試高度一般為0.8米，每個產(chǎn)品要對6個面進行跌落測試。
在實驗室現(xiàn)場，使用華為P6進行了一次跌落測試，隨著一聲清脆的手機與大理石撞機聲后，華為P6依然能夠正常使用，設備旁還有一塊顯示屏可以觀看通過設備旁兩臺高速記錄的手機跌落到大理石上的瞬間。

滾筒測試
所謂的滾筒測試主要目的在于在異常情況下結(jié)構(gòu)空間發(fā)生干涉、單板器件受到應力、殼體裝飾件脫落等潛在失效風險。
每款產(chǎn)品測試都要經(jīng)過0.5m和1.0m各100圈測試，每50圈檢查一次。

按鍵耐久測試
在實驗室中還有四臺按鍵耐久測試設備，其會對用戶使用頻繁的器件進行按壓測試，經(jīng)過測試通過的華為產(chǎn)品要滿足電源按鍵可承受20萬次按壓，側(cè)鍵可承受5萬次按壓的標準。

載重測試
為了模仿用戶日常真實使用，實驗室中還配備了載重測試裝備， 可以模仿手機放在褲兜中用戶坐下或蹲下時手機受到的擠壓，軟載重測試會對產(chǎn)品橫向和豎向正反面用25kgf各按壓500次檢驗其軟載重性能。

扭曲測試

zui有意思的當屬扭曲測試，設備會將產(chǎn)品豎立夾住然后左右進行扭曲，經(jīng)過測試的產(chǎn)品可以能承受1.03N.m的500次反復扭曲，確保手機無器件干涉無結(jié)構(gòu)變形，有效保障了在無意識扭曲下華為手機仍能正常工作。

屏幕可靠性測試
*屏幕是手機zui脆弱的部分，華為也對該部分進行可靠性測試，測試使用130g鋼珠從5cm高度沖擊屏幕5個點和彈簧錘用0.2J的能量沖擊屏幕5個點，以驗證屏幕玻璃強度是否足夠以及觸摸屏和LCD的間距是否安全。
對于屏幕還將進行拉拔測試，用50N的力對手機屏幕進行拉拔來驗證觸摸屏貼合的粘性和強度是否足夠，確保用戶使用過程中不會出現(xiàn)脫落。

端口耐久測試
手機中的數(shù)據(jù)接口以及耳機接口也是日常易損部分，華為可靠性實驗室中也有專門針對鏈接接口耐久性測試，設備會對華為手機數(shù)據(jù)接口和耳機接口進行反復拔插，保障華為產(chǎn)品USB端口可以承受10000次插拔、耳機端口可以承受5000次插拔，另外還對數(shù)據(jù)線接口處進行左右施加1kgf壓力，正、反各2000次，zui大限度保障接口使用的可靠性。
在進行如上測試的前后，還會對產(chǎn)品進行各項功能檢查以保障每款產(chǎn)品的可靠性，這就需要一臺針對華為定制的自動功能檢查設備，該設備完成一臺手機檢查僅需一分鐘即可，在提率的同時也避免了人為因素確保測試一致性。

環(huán)境氣候?qū)嶒炇?br />除了進行機械性的可靠性測試外，華為還擁有宏展環(huán)境氣候?qū)嶒炇?，該實驗室以模擬自然界中可能出現(xiàn)的各種的氣候現(xiàn)象，考驗產(chǎn)品的環(huán)境適應性及可靠性。
目前實驗室中有18臺溫箱，zui大的溫箱測試空間為17立方米，溫變zui快可達每分鐘降溫60度，大部分溫箱的溫度測試范圍可以達到-70攝氏度~100攝氏度，濕度范圍為0-95%，能夠全面完成對外界特殊環(huán)境的穩(wěn)定性測試。

手機輻射檢測
除了手機可靠性外，用戶應該更加關心手機輻射方面問題，手機輻射會對用戶身體帶來一定傷害*。
因此，華為對手機輻射檢測建立了手機實驗室，在測試區(qū)主要擁有測試機器人、精密測試探頭、數(shù)據(jù)采集中心、人體模型、測試模擬組織液、模擬基站以及測試固定臺等組成。
測試中手機會放置在裝有模擬液體的模型中，并檢測輻射信號并由控制區(qū)服務器處理。
華為每款手機都會經(jīng)過上百次檢測，采用的標準比美國的要求更加嚴格。

音頻測試
通話是對于手機zui基本的要求，隨著手機的發(fā)展通話質(zhì)量也在不斷的提升，然而面對更多的用戶需要在嘈雜的環(huán)境中使用，并要求更高的通話質(zhì)量的時候，對于手機廠商是個巨大考驗。
華為為了提升多重環(huán)境下的通話質(zhì)量，為此擁有自己的音頻實驗室，這里擁有音頻分析系統(tǒng)，可以模擬用戶多種通話姿勢和常見確保用戶在任何環(huán)境和姿勢下?lián)碛懈玫耐ㄔ掦w驗。