主要特性與技術指標

    波長范圍 1505 至 1630 nm
    掃描波長精度 ±10 pm
    最大掃描速度 200 nm/s
    在進行雙向掃描時，重復率超過 2 次/秒
    內置相關控制、受激布里淵散射（SBS）抑制

描述

Agilent 81960A 具有更快的掃描速度和重復率，以及可滿足 DWDM 元器件測量需求的動態(tài)精度技術指標，為緊湊型可調諧激光器創(chuàng)造了新的性能標準。 在兩個方向上動態(tài)的掃描可進一步提高重復率，適合在調整和校準過程中實時使用。 Agilent 81960A 的動態(tài)波長精度將以最佳的性價比滿足許多 DWDM 元器件的測試需求。 出色的信號源與自發(fā)噪聲比使其足以對許多濾波器件的隔離度進行測試。

81960A 極快的測量速度和出色的測量精度可幫助您實現研發(fā)和生產目標。

特性：

    創(chuàng)新、*、*的雙向掃描測量
    在 80 nm 掃描范圍內實現高達 200 nm/s 的掃描速度
    在進行雙向掃描時，重復率超過 2 次/秒
    1505 至 1630 nm 波長范圍，適用于對 DWDM 器件進行 C+L 頻段測量
    輸出功率高達 +14 dBm，可調低至 +6 dBm
    由 N7700A 測量引擎支持的自動測量、更新的 816x 即插即用驅動器、N4150A 光基礎程序庫和直接的 SCPI 命令。


優(yōu)勢：

    借助 81960A 在激光器、主機和功率計之間進行更快雙向開關轉換和更出色數據處理的能力，可在相同時間內測試更多的器件。
    使用全新 N7700A-102 快速頻譜損耗引擎（為 81960A 的快速掃描新功能提供 GUI 界面，用于功率和 IL 測量）和 Agilent N7744A 或 N7745A 多端口功率計，可以立即開始測試。
    借助超越 OSA 測量的波長分辨率和動態(tài)范圍，調整和校準濾波器元器件。2 nm 掃寬時重復率高達 3 次/秒；40 nm 掃寬時重復率高達 1 次/秒。
    當使用 N7700A-101 IL/PDL 測量引擎進行單次掃描 PDL 和 IL 測量時，激光器在連續(xù)掃描方面的增強性能可以提供極大幫助。
    通過結合使用 81960A 和用于測量 PMD、DGD、PDL 和 IL 的 N7788B 元器件分析儀，可采用 JME 法對隔離器、PMF 和其他寬帶元器件進行精確的 DGD 測量。
    可使用現成的定制程序，這些程序兼容 816x 即插即用驅動程序、N4150A 光基礎程序庫，以及現有 8194xA 和 8198xA 可調諧激光器模塊的 SCPI 命令集。