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WD4000系列晶圓幾何尺寸量測(cè)設(shè)備通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維形貌
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本設(shè)備利用反射干涉的原理進(jìn)行無損測(cè)量,測(cè)量吸收或者透明襯底上薄
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WD4000系列晶圓微觀幾何輪廓測(cè)量系統(tǒng)通過非接觸測(cè)量,將晶圓的三維
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WD4000晶圓翹曲度幾何量測(cè)系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大翹
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WD4000晶圓微觀三維形貌測(cè)量系統(tǒng)自動(dòng)測(cè)量Wafer厚度、表面粗糙度、
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WD4000晶圓微納幾何三維形貌測(cè)量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)
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WD4000晶圓微納三維形貌量測(cè)系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量大
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WD4000晶圓細(xì)磨硅片粗糙度測(cè)量系統(tǒng)兼容不同材質(zhì)不同粗糙度、可測(cè)量
