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安東帕動態(tài)光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀 Litesizer DLS系列 能提供的粒度測量，并具有自動角度選擇功能以減小誤差，而 MAPS 技術(shù)可實現(xiàn)的峰值分辨率。連續(xù)的透射率檢測可以監(jiān)控測量過程中樣品的沉淀和結(jié)塊，提高測量的可靠性。

作為我們系統(tǒng)的特別之處，cmPALS 和 Omega Cuvette 通過解決老化效應(yīng)并降低電勢梯度來提高 zeta 電位的準確性和可重復(fù)性。

Litesizer DLS 還提供了熒光和偏振濾光片，不僅適用于粒度測量，還適用于 MAPS 三角和單角度模式下的顆粒濃度測量。

三個角度，實時監(jiān)控，確保粒徑更準確

動態(tài)光散射納米粒度及Zeta 電位分析儀Litesizer DLS 提供了三種不同的檢測角度選擇，來測量各種各樣的樣品，同時通過自動角度選擇消除誤差。 
多角度粒度測量 (MAPS) 測量模式提供了出色的分辨率，支持優(yōu)良的分析精度。 
我們的連續(xù)透光率監(jiān)控技術(shù)，可在整個測量過程中提供樣品行為的實時反饋，為用戶提供有關(guān)沉降或結(jié)塊的實時信息。這種實時洞察提高了測量質(zhì)量和可靠性，使我們的系統(tǒng)成為準確、可靠的顆粒分析選擇。

 Zeta 電位分析

我們的動態(tài)光散射儀器的cmPALS 技術(shù)采用設(shè)計，可消除由老化效應(yīng)所引起的可重復(fù)不確定性。 
此外，Omega 樣品池的創(chuàng)新設(shè)計最大限度地減少了電場的梯度，進一步提高了可重復(fù)性 (±3%)。

Kalliope：測量粒度的基準軟件

Kalliope 軟件幾乎不需要用戶培訓(xùn)。 
只需三次點擊即可進行測量。單頁布局提供了輸入?yún)?shù)、測量信號和結(jié)果的實時概覽，讓您對所需了解的一切都一目了然。通過預(yù)先設(shè)置的標準報告和條理清晰的結(jié)果摘要，快速訪問測量結(jié)果。 
如需更詳細的分析，請使用可自定義的報告模板、Excel 導(dǎo)出選項和高級分析功能。此外，Kalliope 符合 21 CFR Part 11，確保了數(shù)據(jù)的完整性和合規(guī)性。

滿足您所需的所有測量模式

利用 Litesizer DLS 701 的顆粒濃度測量模式，增強您的多功能性能，可對單個樣本中最多三個不同粒徑群體進行免校準濃度分析。無論您使用單角度 DLS 還是 MAPS，此模式均支持更大濃度范圍內(nèi)的單分散和多分散樣品。
此外，在精確的波長和測量溫度下測量溶劑的折射率，確保粒度和 zeta 電位結(jié)果的最高精度。Litesizer DLS 701 和 DLS 501 能提供高達 ±0.5% 的精確折射率測量。
最重要的是，Litesizer DLS 系列還能提供分子量測量。
 

功能強大的過濾器選項

Litesizer DLS 701 和 501 是為用戶提供可在三個角度方向應(yīng)用的熒光和偏振濾光片之間選擇的動態(tài)光散射儀器。這使其能夠進行顆粒濃度分析以及應(yīng)用過濾器的 MAPS 三角分析或特定的單角度分析 - 允許使用同類儀器無法進行的分析類型（例如量子點的濃度測定）。