晶圓檢測儀 參考價：面議
THERMA-WAVE TP 630 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓測試和計量設(shè)備，廣泛應用于半導體、數(shù)據(jù)存儲和光伏產(chǎn)業(yè)。該設(shè)備具備多種尖duan技術(shù)，能夠提供高精...
光學計量儀 參考價：面議
KLA-Tencor Spectra-Shape 8660 光學計量儀是一種先進的半導體晶圓測試和計量設(shè)備，主要用于精確測量半導體晶圓的特征尺寸和形狀。該系統(tǒng)采...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor Puma 9100 晶圓檢測儀是一款先進的半導體晶圓測試和計量設(shè)備，廣泛應用于生產(chǎn)及研發(fā)領(lǐng)域。該設(shè)備具有高精度和可重復性的特點，能夠提供精...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor Puma 9000 晶圓檢測儀是一款優(yōu)良的晶圓檢測和計量設(shè)備，廣泛應用于半導體制造業(yè)。該系統(tǒng)利用KLA-Tencor創(chuàng)新的Streak&t...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT XUV 晶圓檢測儀是一款優(yōu)良的晶圓測試和計量設(shè)備，主要用于半導體行業(yè)的高精度檢測。該系統(tǒng)采用超紫外（UV）模式匹配技術(shù)和最新一代的...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT XP 晶圓檢測儀是一款功能強大且高效的晶圓測試和計量設(shè)備，通過其先進的檢測技術(shù)、自動化功能和模塊化設(shè)計，能夠顯著提升半導體制造過程...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT II 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓測試和計量系統(tǒng)，專為半導體行業(yè)設(shè)計。該系統(tǒng)具有多種功能和特點，使其在晶圓缺陷檢測和過程控制方面表現(xiàn)...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor AIT I 晶圓檢測儀是一種用于檢測圖案化晶圓表面缺陷的系統(tǒng)。該系統(tǒng)配置為處理6英寸（150毫米）和8英寸（200毫米）的晶圓，并具備自動...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor 2351 晶圓檢測儀是一種先進的晶圓和掩模檢測系統(tǒng)，廣泛應用于半導體制造行業(yè)。該系統(tǒng)具備多種功能，包括高分辨率成像、自動化分析以及專門的缺...
晶圓檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor 2135 晶圓檢測儀是一種高duan的掩模和晶圓檢測系統(tǒng)，具有多種先進技術(shù)和高靈敏度成像功能。以下是其詳細規(guī)格參數(shù)：用途：主要用于圖案化晶...
顆粒檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor Surfscan SP2 顆粒檢測儀是一款先進的掩模和晶圓檢測設(shè)備，廣泛應用于集成電路(IC)制造過程中的缺陷檢測與分類。該系統(tǒng)采用先進的...
顆粒檢測儀 參考價：面議
KLA-Tencor SFS6420 顆粒檢測儀是一種用于晶圓檢測和計量的系統(tǒng)，廣泛應用于半導體制造領(lǐng)域。該設(shè)備由KLA-Tencor公司生產(chǎn)，具有多種功能和特...
2