首頁>>上海波銘科學(xué)儀器有限公司>>產(chǎn)品展示>>半導(dǎo)體材料測(cè)試>>霍爾電阻遷移率
非接觸遷移率測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
LEIModel1605，是非接觸遷移率測(cè)試系統(tǒng)，可對(duì)各種半導(dǎo)體材料和器件結(jié)構(gòu)進(jìn)行測(cè)試。無需制樣，消除了樣品制備引起的遷移率變化。
非接觸方塊電阻測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
LEI88 是針對(duì)科研類客戶開發(fā)的產(chǎn)品，具備非接觸快速測(cè)試方塊電阻和電導(dǎo)率功能。
非接觸Hall和方塊電阻測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
非接觸Hal和方塊電陽測(cè)試系統(tǒng)，可對(duì)GaAs,InP,InAs,GaN,AIN,Si,SiC等各種半導(dǎo)體材料設(shè)計(jì)的HEMTs,pHEMTs,HBTs,FETs器...
SRP 擴(kuò)展電阻測(cè)試 參考價(jià)：面議
SRP 測(cè)試系統(tǒng)，采用擴(kuò)展電阻率技術(shù)(SRP)，對(duì)載流子濃度和電阻率隨深度的變化做快速測(cè)試。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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