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FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM，能量色散X射線熒光光譜儀，自動進行材料自動分析和鍍層厚度的無損測量，采用ISO 3497和ASTM B ...

X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 ，通用手持式X射線熒光分析儀，即使材料組合困難復(fù)雜的情況下，也可以進行精確的鍍層厚度測量和材料...

FISCHERSCOPE X-RAY XAN，根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線...

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XUL 和 XULM，根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度

VA900 具有優(yōu)秀的量程和分辨率，精度為1 角秒，因而此系統(tǒng)在分度頭的測量與標(biāo)定和其它角度測量裝置如棱鏡和測角儀等應(yīng)用中備受歡迎。泰勒霍普森VA900 視覺光...

TA60 視覺光電自準(zhǔn)直儀泰勒霍普森代理，TA60是一種經(jīng)濟實惠的雙軸測微尺自準(zhǔn)直儀，量程大而且分辨率高。體積小、功能強大、適合裝夾等特點，使其很容易的適用于多...

泰勒霍普森TA51 視覺光電自準(zhǔn)直儀，TA51 具有大量程和高測量精度，因而此系統(tǒng)在分度頭的測量與標(biāo)定和其它角度測量裝置如棱鏡和測角儀等應(yīng)用中備受歡迎。

泰勒霍普森棱鏡和多面棱體自動測量系統(tǒng)，為了成功的應(yīng)用到各種行業(yè)中，生廠商對棱鏡的制造加工精度和公差要求愈加嚴格。

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泰勒霍普森準(zhǔn)直儀，泰勒霍普森推出的高度靈活的超雙軸數(shù)字自準(zhǔn)儀采用了最新CCD技術(shù), 在一系列應(yīng)用的基礎(chǔ)上具有高精準(zhǔn)度和穩(wěn)定的測量性。并且安裝了觸屏操作平板電腦以...

泰勒霍普森非接觸式輪廓儀LUPHOScan 850 HD，LUPHOScan 850 HD被設(shè)計用于對非球面透鏡、球面、平面和輕微自由曲面等旋轉(zhuǎn)對稱表面（光學(xué)器...