薄膜鐵電性能綜合測試儀 參考價：100000
FETS-2000b 薄膜鐵電性能綜合測試儀具有動態(tài)電滯回線(DHM)、I-V特性、脈沖(PUND)、靜態(tài)電滯回線(SHM)、疲勞(FM)、漏電流(LM)、電流...
鐵電綜合測試系統(tǒng) TSDC/TSC測試 參考價：100000
FETS-2000是一款擴(kuò)展靈活的鐵電綜合測試系統(tǒng) TSDC/TSC測試，既可以測試變溫電滯回線計算儲能密度，并具有測試熱刺激電流TSDC/TSC的功能?？蓮V泛...
高壓漏電流測試 參考價：100000
FETS-2000高壓漏電流測試既可以測試電滯回線計算儲能密度，并具有測試高壓漏電流的功能。可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜、厚膜、體材料和電子陶瓷、...
變溫鐵電測試系統(tǒng) 參考價：100000
FETS-2000變溫鐵電測試系統(tǒng)可用于高低溫環(huán)境下材料鐵電性能測試中測試信號的輸出和反饋信號的收集，可進(jìn)行電滯回線測試、漏電流測試、疲勞測試、電擊穿強度測試、...
功能材料電學(xué)性能測試系統(tǒng)鐵電測試 參考價：100000
FMET-1000功能材料電學(xué)性能測試系統(tǒng)鐵電測試與高壓放大器、阻抗分析儀、樣品測試盒配套使用，可以完成鐵電、介電、壓電、電卡效應(yīng)、TSDC/TSC、熱釋電、絕...
變溫極化裝置、超低溫試驗箱 參考價：10000
VTPD-3000變溫極化裝置/超低溫試驗箱用于樣品制備中的極化工序，可實現(xiàn)寬溫區(qū)范圍內(nèi)任意溫度下的樣品極化，一次可極化多個樣品，多路同時極化時，一個樣品擊穿不...
高低溫準(zhǔn)靜態(tài)壓電系數(shù)高溫d33測試系統(tǒng) 參考價：100000
PDTS-3000高低溫準(zhǔn)靜態(tài)壓電系數(shù)高溫d33測試系統(tǒng)即可低溫測試d33系數(shù)，又可以高溫測試d33系數(shù)，具有測量精度高、溫區(qū)寬、自動調(diào)零和校準(zhǔn)等特點。
高溫d33測試系統(tǒng) 參考價：60000
PDTS-600高溫d33測試系統(tǒng)采用準(zhǔn)靜態(tài)法完成高溫變溫條件下d33的自動測量，具有測量精度高、溫區(qū)寬、自動調(diào)零和校準(zhǔn)等特點。
變溫電容充放電測試系統(tǒng) 參考價：80000
CCDM-2000變溫電容充放電測試系統(tǒng)用于研究電容的高電壓充放電性能，集控制器、高壓電源、信號采集器于一體，具有過阻尼、欠阻尼、疲勞等測試功能，配有高壓擊穿保...
高溫電容充放電測試系統(tǒng) 參考價：40000
CCDM-1000高溫電容充放電測試系統(tǒng)用于電介質(zhì)的高電壓充放電性能，集控制器、高壓電源、信號采集器于一體，具有過阻尼、欠阻尼、疲勞等測試功能，配有高壓擊穿保護(hù)...
電容充放電測試儀 參考價：20000
CCDM-1000電容充放電測試儀用于研究電容的高電壓充放電性能，集控制器、高壓電源、信號采集器于一體，具有過阻尼、欠阻尼、疲勞等測試功能，配有高壓擊穿保護(hù)模塊...
高溫介電溫譜偏壓介電測試系統(tǒng) 參考價：50000
DPTS-2000E高溫介電溫譜偏壓介電測試系統(tǒng)適用于高溫環(huán)境下電介質(zhì)材料的介電可調(diào)諧性能的測試，系統(tǒng)軟件擁有完善的測量和分析功能，可測量介電常數(shù)、介電損耗隨電...
高低溫介電溫譜偏壓介電測試系統(tǒng) 參考價：60000
DPTS-2000E高低溫介電溫譜偏壓介電測試系統(tǒng)適用于高低溫環(huán)境下電介質(zhì)材料的介電可調(diào)諧性能的測試，系統(tǒng)軟件擁有完善的測量和分析功能，可測量介電常數(shù)、介電損耗...
中低溫偏置電場下熱釋電測試系統(tǒng) 參考價：100000
PCTS-3000E中低溫偏置電場下熱釋電測試系統(tǒng)采用直接測量法，在熱釋電材料兩端施加直流偏場的條件下，測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計算...
高低溫?zé)後岆娤禂?shù)測試系統(tǒng) 參考價：100000
PCTS-3000H高低溫?zé)後岆娤禂?shù)測試系統(tǒng)采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜...
中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測試系統(tǒng) 參考價：100000
PCTS-3000中低溫?zé)後岆娤禂?shù)測試系統(tǒng)采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、...
高溫?zé)後岆姕y試系統(tǒng) 參考價：100000
PCTS-2000H高溫?zé)後岆姕y試系統(tǒng)采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計算得到本征熱釋電系數(shù)，適用于各種熱釋電薄膜、厚膜、單晶...
偏置電場下熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng) 參考價：100000
PCTS-2000E偏置電場下熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng)采用直接測量法，在熱釋電材料兩端施加直流偏場的條件下，測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計算得...
熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng) 參考價：80000
PCTS-2000熱釋電系數(shù)測試系統(tǒng)采用直接測量法測量熱釋電材料在均勻升溫過程中釋放出來的熱釋電電流，計算得到本征熱釋電系數(shù)。
變溫電卡效應(yīng)測試系統(tǒng) 電卡測試 參考價：100000
ECTS-2000變溫電卡效應(yīng)測試系統(tǒng) 電卡測試采用直接法進(jìn)行測量，直接測量高低溫變溫環(huán)境下材料電卡效應(yīng)的等溫熵變，具有集成度高、測量精度高、靈敏度高、溫區(qū)寬等...
高溫電卡效應(yīng)測試系統(tǒng) 電卡測試 參考價：100000
ECTS-2000高溫電卡效應(yīng)測試系統(tǒng) 電卡測試采用直接法進(jìn)行測量，直接測量高溫變溫環(huán)境下材料電卡效應(yīng)的等溫熵變，具有集成度高、測量精度高、靈敏度高、溫區(qū)寬等特...
電卡效應(yīng)測試系統(tǒng) 電卡測試 參考價：80000
ECTS-2000電卡效應(yīng)測試系統(tǒng),電卡測試采用直接法進(jìn)行測量，直接測量電卡效應(yīng)的等溫熵變，具有集成度高、測量精度高、靈敏度高、溫區(qū)寬等特點，具有高壓擊穿保護(hù)功...
電卡效應(yīng)測試儀/電卡測試 參考價：50000
ECTS-1000電卡效應(yīng)測試儀/電卡測試采用直接法進(jìn)行測量，直接測量電卡效應(yīng)的等溫熵變，具有集成度高、測量精度高、靈敏度高、溫區(qū)寬等特點，具有高壓擊穿保護(hù)功能...
變溫鐵電材料測試系統(tǒng) 參考價：100000
研禾科技FETS-2000變溫鐵電材料測試系統(tǒng)可用于高低溫環(huán)境下材料鐵電性能測試中測試信號的輸出和反饋信號的收集，可進(jìn)行電滯回線測試、漏電流測試、疲勞測試、電擊...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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